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LEITZ探針關(guān)節(jié)

LEITZ探針關(guān)節(jié)

型    號:
報(bào)    價(jià): 1000
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當(dāng)LEITZ探針關(guān)節(jié)與樣品雜交時(shí),探針和與其互補(bǔ)的核酸(DNA或RNA)序列通過氫鍵緊密相連,隨后,未被雜交的多余探針被洗去。Z后,根據(jù)探針的標(biāo)記物種類,可進(jìn)行放射自顯影、熒光發(fā)光、酶聯(lián)化學(xué)發(fā)光等方法來判斷樣品中是否,或者何位置含有被測序列(即與探針互補(bǔ)的序列)。

LEITZ探針關(guān)節(jié)的詳細(xì)資料:

LEITZ探針關(guān)節(jié)是一小段單鏈DNA或者RNA(大約是20到500bp),用于檢測與其互補(bǔ)的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈,隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過氧化物酶)標(biāo)記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團(tuán)中,而熒光染料和酶與核酸序列以共價(jià)鍵相連。

 :徐智勇
地址:上海市普陀區(qū)中江路889號曹楊商務(wù)大廈 1501-1502


  :200333




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LEITZ型號:

LEITZ探針關(guān)節(jié)   060-694.013-000
LEITZ探針          訂貨號M00-694-150-016
LEITZ探針          訂貨號M00-694-063-005
LEITZ探針          訂貨號M00-694-111-000
  M00-694-010-000
   060-813.051-000
LEITZ探針           訂貨號060-694.150-007

分類
探針根據(jù)電子測試用途可分為:A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針,國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;
B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;
C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針,核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針 (ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)
非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測試機(jī)臺的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機(jī)臺與測試夾具的接觸點(diǎn)和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)
兩個(gè)測試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關(guān)探針(Switch Probes)
開關(guān)探針單*支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)
用于測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)
彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng),一般用于OSP處理過的PCBA測試.
7.高電流探針(High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.zui大的測試電流可達(dá)39amps.
8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長.
10.汽車線束測試測試探針
專業(yè)用于汽車線束通斷檢測,直徑在1.0--3.5mm之間,電流在3----50A

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